Kompaktes Prüfsystem für längsorientierte Oberflächenfehler
Der CIRCOGRAPH CI vereint eine kompakte Bauweise mit einer intuitiven Bedienung in einem hochpräzisen, rotierenden Prüfsystem. Der CIRCOGRAPH CI ist nicht nur mit einem nutzerfreundlichen Bedienrechner ausgestattet, sondern auch mit einer einfachen Turn-and-Push Bedienung versehen. Das zweikanalige System ist durch eine große Auswahl an unterschiedlichen Rotierköpfen optimal an Ihre Prüfaufgabe anpassbar. So können Längsfehler in der Materialoberfläche bereits ab einer Tiefe von 30 µm nachgewiesen werden.
Ihre Vorteile im Überblick:
- Kompakte Bauweise
- Einfache Bedienung über integrierten Bedienrechner und Turn-and-Push Bedienung
- Universelles Prüfsystem, anpassbar an individuelle Applikationen und Anforderungen
- Zweikanaliges Prüfsystem
- Lückenlose Prüfung im kontinuierlichen Durchlauf
- Fehlertiefenauflösung ab 30 µm
Technical Data
| Prüfmaterial: | ferromagnetisches, austenitisches und nicht-ferromagnetisches Material |
| Sensorsystem: | Rotierendes Sensorsystem mit maximal zwei (Ro 20 und Ro 35) gegenüberliegenden Prüfköpfen |
| Prüffrequenzen: | 30 kHz - 1 MHz |
| Max. Durchsatzgeschwindigkeit: | 3 m/s bei lückenloser Prüfung |
| Fehlernachweis: | ab 30 µm bei Ro 20 / Ro 35 |
